納米粒度儀zeta電位分析儀操作注意事項
更新時間:2023-02-03 點擊次數(shù):654
納米粒度儀zeta電位分析儀專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳(LDE)技術(shù),提供測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充,用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。新產(chǎn)品由新型的光學(xué)系統(tǒng)、電泳池、數(shù)據(jù)采樣和數(shù)據(jù)處理等部分組成,實現(xiàn)了由PC個人微機對采樣模塊的控制及后期數(shù)據(jù)處理的一體化設(shè)計,與其它同類產(chǎn)品相比,它具有更多的優(yōu)異性能。通過測定粉體的Zeta電位,從pH-Zeta電位關(guān)系圖上求出等電點,是認(rèn)識粉體表面電性的重要方法,在粉體表面處理中也是重要的手段。
納米粒度儀zeta電位分析儀注意事項:
1、若要進(jìn)行酸堿滴定測等電點或測PH值,則每次實驗前須校正PH探針;若要測試溶液電導(dǎo)率,則須校正電導(dǎo)率。主探頭可每周校正一次;
2、每次更換樣品物需清洗主探頭、PH探針以及容器,要擦干,以免前面殘留粉末影向?qū)嶒灲Y(jié)果;
3、實驗結(jié)東后要清洗主探頭、PH琛針和容器,并將PH探針放回酸性沖液中;
4、若進(jìn)行酸碔滴定則每次關(guān)機前需將酸堿滴定管凊洗3~5次。
納米粒度儀zeta電位分析儀應(yīng)用:
半導(dǎo)體:研究半導(dǎo)體晶體表面殘留雜質(zhì)與磨蝕劑、添加劑和晶片表面之間的相互影響的凈化機制。
醫(yī)藥和食品行業(yè):乳劑的分散和凝聚的模擬控制研究(如食品、香水、藥品和化妝品),蛋白質(zhì)功能研究,核糖體分散和凝聚控制研究,表面活性劑功能研究(微囊)。
陶瓷和顏料工業(yè):表面重整控制研究、分散和凝聚陶瓷(矽土、氧化鋁、二氧化鈦等)和無機溶膠的研究,顏料的分散和凝聚的控制研究,浮礦收集器的吸附研究。
聚合物和化工領(lǐng)域:乳劑(涂料和粘合劑)的分散和凝聚控制研究,乳膠表面重整控制(藥品和工業(yè)用途)。電解聚合物(聚苯乙烯磺酸鈉、多羧酸等)功能研究,控制造紙和生產(chǎn)紙漿過程研究,紙漿添加劑研究。