APS從聲衰減光譜測量產生PSD數據，不需要稀釋樣品。APS還測量粒度范圍的10納米到100微米的樣品的聲音速度譜、pH、電導率和溫度。當聲音穿越泥漿或膠體時，是衰減的。衰減的程度與粒度分布有關。APS可在1-100MHz的頻率范圍內非常準確地測量聲音衰減。因為聲音穿過所有的物質媒介，APS聲音衰減的測量可以在高濃度和/或不透明的樣品中進行。粒子沉降并不是一個問題，因為在測量時樣品可以被攪拌或泵送。APS分析不受樣品的Zeta電勢水平的約束。APS很容易分析零粒子和高電荷。
APS取樣分析是快速和容易的，無需稀釋樣品。稀釋樣品費時，容易出錯，并可能改變樣品的實際PSD。簡單地倒，或者連續(xù)泵送樣品進入到APS的樣品室，APS的直觀的軟件在幾分鐘內做玩余下的工作。計算詳細PSD數據的技術，不需要假設PSD形狀。其他類型的儀器，例如光散射，意味著軟件或操作者假設或猜測PSD是單峰、雙峰、對數正態(tài)或高斯分布的。這種假設可能導致數據不可靠。
主要用途：
1)半導體化學機械拋光(CMP)料漿；
2)陶瓷；
3)油墨；
4)乳劑穩(wěn)定性；
5)藥品；
6)生物膠體；
7)熒光粉；
8)有機和無機顏料如Ti02和炭黑；
9)催化劑；
10)礦物；
11)聚合物乳液；
12)水和非水分散體系。
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